multifunctional scanning probe microscope №1 Растущая потребность в проведении углубленных исследований для разработки инновационных решений привела к росту спроса на сканирующие зондовые микроскопы во всем мире. Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) - это отрасль микроскопии, которая формирует изображения поверхностей с использованием физического зонда, который сканирует образец. Сканирующий зондовый микроскоп это многофункциональное устройство для выполнения наиболее типичных задач в области сканирующей зондовой микроскопии. Устройство способно выполнять более 40 методов измерения, что позволяет анализировать физико-химические свойства поверхности с высокой точностью и разрешением. Можно проводить эксперименты на воздухе, а также в жидкостях и в контролируемой среде. Микроскопические устройства набирают огромную популярность и находят широкий спектр применений в биоинженерии и электронике. Увеличение объема исследований и разработок, инициированных правительствами, школами, университетами и исследовательскими институтами в развивающихся регионах, способствовало росту рынка. №2 Рост мирового рынка устройств для микроскопии обусловлен его широкими возможностями применения в различных отраслях промышленности. Такие отрасли, как полупроводники, нанотехнологии и различные отрасли науки, все чаще используют микроскопические устройства для исследовательских целей, которые способствуют росту рынка. Расширение взаимосвязанных отраслей, таких как полупроводниковая промышленность, в развивающихся странах стимулирует рост мирового рынка устройств для микроскопии. Атомно-силовая микроскопия, пожалуй, самая универсальная и мощная технология микроскопии для исследования образцов в наноразмерном масштабе. Он универсален, потому что атомно-силовой микроскоп может не только отображать изображение в трехмерной топографии, но также обеспечивает различные типы измерений поверхности для нужд ученых и инженеров. Это мощный инструмент, потому что AFM может генерировать изображения в атомном разрешении с информацией о разрешающей способности с минимальной подготовкой образца.